ਧਾਤਾਂ 'ਤੇ ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕਿਵੇਂ ਕਰਨਾ ਹੈ

ਧਾਤਾਂ 'ਤੇ ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕਿਵੇਂ ਕਰੀਏ

ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਵਿੱਚ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤਹਾਂ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਜਾਂਚ ਵਿਧੀ ਹੈ - ਖਾਸ ਕਰਕੇ ਧਾਤਾਂ - ਅਸਫਲਤਾ ਵਿਧੀਆਂ, ਦਰਾੜਾਂ ਦੇ ਮੂਲ, ਦਰਾੜਾਂ ਦੇ ਪ੍ਰਸਾਰ ਦਿਸ਼ਾਵਾਂ, ਅਤੇ ਉਹਨਾਂ ਨੂੰ ਪੈਦਾ ਕਰਨ ਵਾਲੀਆਂ ਲੋਡਿੰਗ ਸਥਿਤੀਆਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣ ਲਈ। ਇੰਜੀਨੀਅਰਿੰਗ ਅਭਿਆਸ ਵਿੱਚ, ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਅਕਸਰ ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਅਸਫਲਤਾ ਦੇ ਮਾਮਲਿਆਂ ਵਿੱਚ ਵਰਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ: ਟੁੱਟੇ ਹੋਏ ਸ਼ਾਫਟ, ਟੁੱਟੇ ਬੋਲਟ, ਫਟਦੇ ਸਪ੍ਰਿੰਗਸ, ਲੀਕ ਹੋਣ ਵਾਲੀਆਂ ਪਾਈਪਾਂ, ਅਤੇ ਢਹਿ-ਢੇਰੀ ਹੋਏ ਵੈਲਡੇਡ ਢਾਂਚੇ। ਇਹ ਲੇਖ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਤਿਆਰੀ ਤੋਂ ਲੈ ਕੇ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਵਿਆਖਿਆ ਤੱਕ, ਧਾਤਾਂ 'ਤੇ ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਨੂੰ ਯੋਜਨਾਬੱਧ ਢੰਗ ਨਾਲ ਕਰਨ ਦੇ ਕਦਮਾਂ ਦੀ ਚਰਚਾ ਕਰਦਾ ਹੈ।

1. ਟੀਚਿਆਂ ਅਤੇ ਦਾਇਰੇ ਨੂੰ ਸਮਝੋ

ਨਮੂਨੇ ਨੂੰ ਸੰਭਾਲਣ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ, ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਦਾ ਉਦੇਸ਼ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰੋ। ਕੀ ਤੁਸੀਂ ਇਹ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨਾ ਚਾਹੁੰਦੇ ਹੋ ਕਿ ਕੀ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਟੈਟਿਕ ਓਵਰਲੋਡ, ਥਕਾਵਟ, ਤਣਾਅ ਦੇ ਖੋਰ (SCC), ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਨ ਭਰਾਈ, ਜਾਂ ਉੱਚ-ਤਾਪਮਾਨ ਦੇ ਕ੍ਰੀਪ ਕਾਰਨ ਹੈ? ਉਦੇਸ਼ ਪ੍ਰੀਖਿਆ ਦੇ ਵੇਰਵੇ ਦੇ ਪੱਧਰ ਅਤੇ ਵਰਤੇ ਗਏ ਸੰਦਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਤ ਕਰੇਗਾ।

ਦਾਇਰਾ ਵੀ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ: ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਨੂੰ ਆਦਰਸ਼ਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਹੋਰ ਡੇਟਾ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸੰਚਾਲਨ ਇਤਿਹਾਸ, ਕੰਮ ਦਾ ਬੋਝ, ਵਾਤਾਵਰਣ (ਖੋਰੀ ਵਾਲਾ ਜਾਂ ਨਹੀਂ), ਤਾਪਮਾਨ, ਰੱਖ-ਰਖਾਅ ਦੇ ਰਿਕਾਰਡ, ਅਤੇ ਸਮੱਗਰੀ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜੇ (ਰਚਨਾ, ਕਠੋਰਤਾ, ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਟ੍ਰਕਚਰ) ਨਾਲ ਜੋੜਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਹਾਲਾਂਕਿ, ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਅਕਸਰ "ਗੇਟਵੇ" ਹੁੰਦੀ ਹੈ ਕਿਉਂਕਿ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤਹ ਵਿੱਚ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਵਿਜ਼ੂਅਲ ਸੁਰਾਗ ਹੁੰਦੇ ਹਨ।

2. ਸਹੀ ਨਮੂਨਾ ਅਤੇ ਸੰਭਾਲ

ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਵਿੱਚ ਸਭ ਤੋਂ ਆਮ ਗਲਤੀ ਜਾਂਚ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤ੍ਹਾ ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਪਹੁੰਚਾਉਣਾ ਜਾਂ "ਧੱਬਾ" ਲਗਾਉਣਾ ਹੈ। ਇਸ ਲਈ:

1. ਟੁੱਟੀ ਹੋਈ ਸਤ੍ਹਾ ਨੂੰ ਸਿੱਧੇ ਆਪਣੇ ਹੱਥਾਂ ਨਾਲ ਨਾ ਛੂਹੋ। ਤੇਲ ਅਤੇ ਪਸੀਨਾ ਨਾਜ਼ੁਕ ਹਿੱਸਿਆਂ ਨੂੰ ਢੱਕ ਸਕਦੇ ਹਨ।
2. ਰਗੜਨ, ਰੇਤ ਕੱਢਣ ਜਾਂ ਹਮਲਾਵਰ ਸਫਾਈ ਤੋਂ ਬਚੋ। ਗਲਤ ਸਫਾਈ ਥਕਾਵਟ ਵਾਲੀਆਂ ਧਾਰੀਆਂ ਜਾਂ ਭੁਰਭੁਰਾ ਪੈਟਰਨਾਂ ਨੂੰ ਦੂਰ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ।
3. ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤ੍ਹਾ ਦੀ ਰੱਖਿਆ ਕਰੋ। ਇੱਕ ਸਾਫ਼ ਕੰਟੇਨਰ, ਲਿੰਟ-ਫ੍ਰੀ ਕੱਪੜਾ, ਜਾਂ ਐਲੂਮੀਨੀਅਮ ਫੋਇਲ ਰੈਪ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ। ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਓਰੀਐਂਟੇਸ਼ਨ (ਉੱਪਰ-ਹੇਠਾਂ, ਅੰਦਰ-ਬਾਹਰ) 'ਤੇ ਨਿਸ਼ਾਨ ਲਗਾਓ।
4. ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਸਥਿਤੀ ਦਾ ਦਸਤਾਵੇਜ਼ੀਕਰਨ ਕਰੋ। ਸਾਈਟ 'ਤੇ ਹਿੱਸੇ ਦੀ ਫੋਟੋ ਖਿੱਚੋ (ਜੇ ਸੰਭਵ ਹੋਵੇ), ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਥਿਤੀ, ਲੋਡ ਦਿਸ਼ਾ, ਅਤੇ ਆਲੇ ਦੁਆਲੇ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ ਦੀ ਸਥਿਤੀ (ਖੋਰ, ਘਿਸਾਅ, ਪ੍ਰਭਾਵ ਦੇ ਨਿਸ਼ਾਨ) ਸ਼ਾਮਲ ਹਨ।

ਖੇਤ ਦੀਆਂ ਸਥਿਤੀਆਂ ਵਿੱਚ, ਟੁੱਟੇ ਹੋਏ ਟੁਕੜੇ ਨੂੰ ਅਕਸਰ ਦੋ ਹਿੱਸਿਆਂ ਵਿੱਚ ਵੰਡਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਓ ਕਿ ਦੋਵੇਂ ਟੁਕੜੇ ਸਟੋਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ ਅਤੇ ਲੇਬਲ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ ਤਾਂ ਜੋ ਉਹਨਾਂ ਨੂੰ ਪੁਨਰ ਨਿਰਮਾਣ ਦੌਰਾਨ ਮਿਲਾਇਆ ਜਾ ਸਕੇ।

3. ਮੈਕਰੋ ਵਿਜ਼ੂਅਲ ਇੰਸਪੈਕਸ਼ਨ (ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਪੜਾਅ)

ਅਗਲਾ ਕਦਮ ਬਿਨਾਂ ਵੱਡਦਰਸ਼ੀ ਜਾਂ ਇੱਕ ਸਧਾਰਨ ਵੱਡਦਰਸ਼ੀ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਦੇ ਇੱਕ ਮੈਕਰੋਸਕੋਪਿਕ ਵਿਜ਼ੂਅਲ ਨਿਰੀਖਣ ਹੈ। ਟੀਚਾ ਇਹ ਲੱਭਣਾ ਹੈ:

- ਦਰਾੜ ਦੇ ਮੂਲ ਸਥਾਨ: ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਇੱਕ ਨਿਰਵਿਘਨ ਖੇਤਰ, ਰੰਗ ਵਿੱਚ ਤਬਦੀਲੀ, ਜਾਂ ਤਣਾਅ ਦੇ ਗਾੜ੍ਹਾਪਣ ਦੇ ਬਿੰਦੂ (ਨੌਚ, ਧਾਗਾ, ਸਟੈਪਡ ਸ਼ਾਫਟ, ਵੈਲਡ ਨੁਕਸ) ਦੁਆਰਾ ਦਰਸਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।
– ਦਰਾੜ ਦੇ ਪ੍ਰਸਾਰ ਦੀ ਦਿਸ਼ਾ: ਇਸਨੂੰ "ਬੀਚ ਮਾਰਕਸ" ਪੈਟਰਨ (ਥਕਾਵਟ ਵਿੱਚ) ਜਾਂ ਸ਼ੈਵਰੋਨ ਮਾਰਕਸ (ਭੁਰਭੁਰਾ ਫ੍ਰੈਕਚਰ) ਤੋਂ ਪੜ੍ਹਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।
- ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਜ਼ੋਨ: ਥਕਾਵਟ ਵਾਲੇ ਹਿੱਸਿਆਂ ਵਿੱਚ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਇੱਕ ਦਰਾੜ ਪ੍ਰਸਾਰ ਜ਼ੋਨ (ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਨਿਰਵਿਘਨ) ਅਤੇ ਇੱਕ ਮੋਟਾ ਅੰਤਮ ਓਵਰਲੋਡ ਜ਼ੋਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।
- ਪਲਾਸਟਿਕ ਦੇ ਵਿਗਾੜ ਦੇ ਸੰਕੇਤ: ਤਣਾਅ ਵਿੱਚ ਗਰਦਨ, ਡਕਟਾਈਲ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਵਿੱਚ ਸ਼ੀਅਰ ਲਿਪ, ਜਾਂ ਜਿਓਮੈਟ੍ਰਿਕ ਵਿਗਾੜ।

ਮੈਕਰੋ ਦਸਤਾਵੇਜ਼ੀਕਰਨ ਇੱਕ ਉੱਚ-ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ ਕੈਮਰੇ ਅਤੇ ਮਾਪਣ ਵਾਲੇ ਪੈਮਾਨੇ ਨਾਲ ਸਭ ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਢੰਗ ਨਾਲ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਕਈ ਕੋਣਾਂ ਤੋਂ ਫੋਟੋਆਂ ਅਸਫਲਤਾ ਦੀ ਕਹਾਣੀ ਨੂੰ ਇਕੱਠਾ ਕਰਨ ਵਿੱਚ ਮਦਦ ਕਰਦੀਆਂ ਹਨ।

4. ਘੱਟ ਵਿਸਤਾਰ ਨਾਲ ਮੈਕਰੋ ਪ੍ਰੀਖਿਆ

ਮੈਕਰੋ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਸਪੱਸ਼ਟ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਸਟੀਰੀਓਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਜਾਂ 10x–50x ਵੱਡਦਰਸ਼ੀ ਲੂਪ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ:

- ਰੈਚੇਟ ਦੇ ਨਿਸ਼ਾਨ: ਥਕਾਵਟ ਦੇ ਬਹੁ-ਮੂਲ ਸੰਕੇਤ।
- ਬੀਚ ਦੇ ਨਿਸ਼ਾਨ: ਸਮੇਂ-ਸਮੇਂ 'ਤੇ ਲੋਡ ਭਿੰਨਤਾਵਾਂ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਕੇਂਦਰਿਤ ਰੇਖਾਵਾਂ।
- ਸ਼ੈਵਰੋਨ ਦੇ ਨਿਸ਼ਾਨ: ਭੁਰਭੁਰਾ ਫ੍ਰੈਕਚਰ (ਕਲੀਵੇਜ) ਦੇ ਮੂਲ ਬਿੰਦੂ ਵੱਲ ਇਸ਼ਾਰਾ ਕਰੋ।
- ਸ਼ੀਅਰ ਲਿਪ: ਇੱਕ ਤਿਰਛੀ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਕਿਨਾਰਾ ਜੋ ਸ਼ੀਅਰ ਡਿਫਾਰਮੇਸ਼ਨ ਅਤੇ ਡਕਟਾਈਲ ਫੇਲ੍ਹ ਹੋਣ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ।

ਇਸ ਪੜਾਅ 'ਤੇ, ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਕ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਵਿਧੀ ਦੀ ਇੱਕ ਪਰਿਕਲਪਨਾ ਤਿਆਰ ਕਰਨਾ ਸ਼ੁਰੂ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਪਰ ਇਹ ਅੰਤਿਮ ਨਹੀਂ ਹੈ ਕਿਉਂਕਿ ਸੂਖਮ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਅਕਸਰ ਨਿਰਣਾਇਕ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ।

5. ਸੁਰੱਖਿਅਤ ਤਰੀਕਿਆਂ ਨਾਲ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਸਫਾਈ (ਜੇਕਰ ਜ਼ਰੂਰੀ ਹੋਵੇ)

ਸਾਰੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਨੂੰ ਸਾਫ਼ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਨਹੀਂ ਹੈ। ਜੇਕਰ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤ੍ਹਾ ਨੂੰ ਢੱਕਣ ਵਾਲੀ ਮਿੱਟੀ, ਗਾੜ੍ਹਾ ਤੇਲ, ਜਾਂ ਢਿੱਲੀ ਖੋਰ ਉਤਪਾਦ ਹਨ, ਤਾਂ ਸਫਾਈ ਧਿਆਨ ਨਾਲ ਕੀਤੀ ਜਾਣੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ:

- ਹਲਕੇ ਘੋਲਕ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਆਈਸੋਪ੍ਰੋਪਾਈਲ ਅਲਕੋਹਲ ਜਾਂ ਐਸੀਟੋਨ (ਸੁਰੱਖਿਆ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੇ ਨਾਲ)।
- ਅਲਟਰਾਸੋਨਿਕ ਸਫਾਈ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਪਰ ਧਿਆਨ ਰੱਖਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਕਿਉਂਕਿ ਇਹ ਕੁਝ ਮਾਮਲਿਆਂ ਵਿੱਚ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਕਣਾਂ ਨੂੰ ਛੱਡ ਸਕਦਾ ਹੈ ਜਾਂ ਬਹੁਤ ਹੀ ਨਾਜ਼ੁਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਪਹੁੰਚਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।
- ਤਾਰਾਂ ਵਾਲੇ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਅਤੇ ਸਖ਼ਤ ਸਕ੍ਰਬਿੰਗ ਤੋਂ ਬਚੋ।

ਜੇਕਰ SCC ਜਾਂ ਖੋਰ ਨੂੰ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਭੂਮਿਕਾ ਨਿਭਾਉਣ ਦਾ ਸ਼ੱਕ ਹੈ, ਤਾਂ ਹਮਲਾਵਰ ਸਫਾਈ ਅਸਲ ਵਿੱਚ ਖੋਰ ਉਤਪਾਦਾਂ ਅਤੇ ਸ਼ਾਖਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਦਰਾੜ ਪੈਟਰਨਾਂ ਦੇ ਸਬੂਤ ਨੂੰ ਮਿਟਾ ਸਕਦੀ ਹੈ।

6. SEM (ਸਕੈਨਿੰਗ ਇਲੈਕਟ੍ਰੌਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ) ਨਾਲ ਸੂਖਮ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ

ਆਧੁਨਿਕ ਧਾਤ ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਲਈ, SEM ਮੁੱਖ ਔਜ਼ਾਰ ਹੈ। SEM ਉੱਚ ਵਿਸਤਾਰ ਅਤੇ ਖੇਤਰ ਦੀ ਵਿਸ਼ਾਲ ਡੂੰਘਾਈ ਦੀ ਆਗਿਆ ਦਿੰਦੇ ਹਨ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤਹ ਟੌਪੋਗ੍ਰਾਫੀ ਦੀ ਸਪਸ਼ਟ ਦ੍ਰਿਸ਼ਟੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਇੱਕ SEM ਵਿੱਚ, ਹੇਠ ਲਿਖੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਭਾਲ ਕਰੋ:

a) ਡਕਟਾਈਲ ਫ੍ਰੈਕਚਰ
– ਡਿੰਪਲ ਫਟਣਾ: ਮਾਈਕ੍ਰੋਵੋਇਡ ਕੋਲੇਸੈਂਸ ਵਿਧੀ ਦੇ ਕਾਰਨ ਡਿੰਪਲਾਂ ਦੀ ਸ਼ਕਲ।
- ਲੰਬੇ ਡਿੰਪਲ ਕਤਰਨ ਦਾ ਸੰਕੇਤ ਦੇ ਸਕਦੇ ਹਨ।
- ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਡਕਟਾਈਲ ਸਮੱਗਰੀ 'ਤੇ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਸਥਿਰ ਲੋਡ ਜਾਂ ਓਵਰਲੋਡ ਨਾਲ ਸਬੰਧਤ।

b) ਭੁਰਭੁਰਾ ਫ੍ਰੈਕਚਰ
– ਕਲੀਵੇਜ ਪਹਿਲੂ: ਸਮਤਲ ਖੇਤਰ ਜੋ ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਵੱਖਰਾਪਣ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹਨ।
– ਦਰਿਆ ਦੇ ਨਮੂਨੇ: ਦਰਿਆ ਵਰਗੇ ਨਮੂਨੇ ਜੋ ਦਰਾੜ ਦੇ ਪ੍ਰਸਾਰ ਦੀ ਦਿਸ਼ਾ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ।
- ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ, ਸਖ਼ਤ ਸਮੱਗਰੀ, ਜਾਂ ਭੁਰਭੁਰਾਪਣ ਦੀ ਮੌਜੂਦਗੀ 'ਤੇ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।

c) ਥਕਾਵਟ
- ਧਾਰੀਆਂ: ਬਾਰੀਕ ਰੇਖਾਵਾਂ ਜੋ ਪ੍ਰਤੀ ਚੱਕਰ ਵਿੱਚ ਦਰਾੜ ਦੇ ਵਾਧੇ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦੀਆਂ ਹਨ।
– ਸੈਕੰਡਰੀ ਕ੍ਰੈਕਿੰਗ: ਸਥਾਨਕ ਤਣਾਅ ਕਾਰਨ ਛੋਟੀਆਂ ਚੀਰਾਂ ਦਾ ਸ਼ਾਖਾਵਾਂ ਬਣਨਾ।
- ਸਟਰਾਈਸ਼ਨਾਂ ਦੀ ਮੌਜੂਦਗੀ ਥਕਾਵਟ ਦਾ ਇੱਕ ਮਜ਼ਬੂਤ ​​ਸੰਕੇਤ ਹੈ, ਹਾਲਾਂਕਿ ਇਹ ਹਮੇਸ਼ਾ ਦਿਖਾਈ ਨਹੀਂ ਦਿੰਦੇ (ਸਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਸਥਿਤੀਆਂ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਕਰਦਾ ਹੈ)।

d) SCC / ਖੋਰ-ਥਕਾਵਟ
- ਟਾਹਣੀਆਂ ਵਿੱਚ ਤਰੇੜਾਂ, ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਨਾਜ਼ੁਕ ਸਤ੍ਹਾ।
- ਖੋਰ ਉਤਪਾਦਾਂ ਅਤੇ ਅੰਤਰ-ਗ੍ਰੈਨਿਊਲਰ ਜਾਂ ਟ੍ਰਾਂਸਗ੍ਰੈਨਿਊਲਰ ਪੈਟਰਨਾਂ ਵਾਲੇ ਖੇਤਰ।
- ਅਕਸਰ ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਵਾਤਾਵਰਣ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਨਾਲ ਸਬੰਧ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।

e) ਕ੍ਰੀਪ (ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ)
- ਅਨਾਜ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ 'ਤੇ ਖੱਡਾਂ, ਅੰਤਰ-ਦਾਣੇਦਾਰ ਤਰੇੜਾਂ, "ਦਾਣੇਦਾਰ" ਵਰਗੀ ਸਤ੍ਹਾ।
- ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਉਨ੍ਹਾਂ ਹਿੱਸਿਆਂ ਵਿੱਚ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਜੋ ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ 'ਤੇ ਲੰਬੇ ਸਮੇਂ ਤੱਕ ਕੰਮ ਕਰਦੇ ਹਨ (ਸਟੀਮ ਪਾਈਪ, ਟਰਬਾਈਨ)।

7. EDS/EDX ਨਾਲ ਰਚਨਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ (ਵਿਕਲਪਿਕ ਪਰ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ)

ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ SEM ਤੱਤ ਦੀ ਪਛਾਣ ਲਈ EDS (ਊਰਜਾ ਫੈਲਾਉਣ ਵਾਲੀ ਸਪੈਕਟ੍ਰੋਸਕੋਪੀ) ਨਾਲ ਲੈਸ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। EDS ਇਹਨਾਂ ਲਈ ਲਾਭਦਾਇਕ ਹੈ:

- ਦੂਸ਼ਿਤ ਤੱਤਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰੋ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸਟੇਨਲੈਸ ਸਟੀਲ SCC 'ਤੇ ਕਲੋਰਾਈਡ)।
- ਦਰਾਰਾਂ ਦੀ ਉਤਪਤੀ ਨੂੰ ਚਾਲੂ ਕਰਨ ਵਾਲੇ ਸਮਾਵੇਸ਼ਾਂ (MnS, ਆਕਸਾਈਡ) ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣਾ।
- ਖੋਰ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੀ ਗੁਣਾਤਮਕ ਪਛਾਣ ਕਰੋ।

ਹਾਲਾਂਕਿ, EDS ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਮਾਤਰਾ ਲਈ ਸਭ ਤੋਂ ਸਹੀ ਸਾਧਨ ਨਹੀਂ ਹੈ; ਇਹ ਤੇਜ਼ ਪਛਾਣ ਅਤੇ ਸਾਪੇਖਿਕ ਤੁਲਨਾ ਲਈ ਵਧੇਰੇ ਢੁਕਵਾਂ ਹੈ।

8. ਦਰਾੜ ਦੀ ਉਤਪਤੀ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਓ ਅਤੇ ਅਸਫਲਤਾ ਦੀ ਇੱਕ "ਸਮਾਂਰੇਖਾ" ਤਿਆਰ ਕਰੋ

ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਦਾ ਸਾਰ ਸਿਰਫ਼ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਸਤ੍ਹਾ ਨੂੰ ਦੇਖਣਾ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਸਗੋਂ ਘਟਨਾਵਾਂ ਦੇ ਕ੍ਰਮ ਨੂੰ ਸੰਕਲਿਤ ਕਰਨਾ ਹੈ:

1. ਮੂਲ: ਜਿੱਥੋਂ ਦਰਾੜ ਸ਼ੁਰੂ ਹੁੰਦੀ ਹੈ (ਨੌਚ, ਵੈਲਡ ਪੋਰ, ਧਾਗੇ ਦੀ ਜੜ੍ਹ, ਸ਼ਾਮਲ)।
2. ਵਿਕਾਸ ਮੋਡ: ਥਕਾਵਟ, SCC, ਜਾਂ ਰੀਂਗਣਾ (ਹੌਲੀ ਪ੍ਰਸਾਰ)।
3. ਅੰਤਿਮ ਫ੍ਰੈਕਚਰ: ਅੰਤਿਮ ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਕਿਉਂਕਿ ਬਾਕੀ ਬਚਿਆ ਕਰਾਸ-ਸੈਕਸ਼ਨਲ ਖੇਤਰ ਭਾਰ ਨੂੰ ਸਹਾਰਾ ਦੇਣ ਲਈ ਕਾਫ਼ੀ ਨਹੀਂ ਹੈ।

ਇਹਨਾਂ ਜ਼ੋਨਾਂ ਦੀ ਮੈਪਿੰਗ ਕਰਕੇ, ਤੁਸੀਂ ਸਮਝਾ ਸਕਦੇ ਹੋ ਕਿ ਹਿੱਸੇ ਲੰਬੇ ਸਮੇਂ ਤੱਕ ਕਿਉਂ ਰਹਿੰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਫਿਰ ਅਚਾਨਕ ਅਸਫਲ ਕਿਉਂ ਹੋ ਜਾਂਦੇ ਹਨ।

9. ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਨੂੰ ਮੈਟਲੋਗ੍ਰਾਫੀ ਅਤੇ ਸਹਾਇਕ ਟੈਸਟਾਂ ਨਾਲ ਜੋੜਨਾ

ਮਜ਼ਬੂਤ ​​ਸਿੱਟਿਆਂ ਲਈ, ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਦਾ ਸਮਰਥਨ ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ:

– ਸੂਖਮ ਢਾਂਚੇ, ਅਨਾਜ ਦੇ ਆਕਾਰ, ਗਰਮੀ ਦੇ ਇਲਾਜ ਦੀ ਗੁਣਵੱਤਾ, ਜਾਂ ਅੰਤਰ-ਦਾਣੇਦਾਰ ਦਰਾਰਾਂ ਨੂੰ ਦੇਖਣ ਲਈ ਮੈਟਲੋਗ੍ਰਾਫੀ (ਮੂਲ ਦੇ ਨੇੜੇ ਕਰਾਸ-ਸੈਕਸ਼ਨ)।
- ਜ਼ਿਆਦਾ ਸਖ਼ਤ ਹੋਣ, ਡੀਕਾਰਬੁਰਾਈਜ਼ੇਸ਼ਨ, ਜਾਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਭਿੰਨਤਾਵਾਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣ ਲਈ ਕਠੋਰਤਾ ਟੈਸਟਿੰਗ।
- ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਗ੍ਰੇਡ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਨ ਲਈ ਰਸਾਇਣਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ।
- ਸਮਾਨ ਤਰੇੜਾਂ ਦੀ ਭਾਲ ਲਈ ਦੂਜੇ ਹਿੱਸਿਆਂ (MT/PT/UT) 'ਤੇ NDT ਨਿਰੀਖਣ।

ਇਹ ਸਬੰਧ ਗਲਤ ਵਿਆਖਿਆ ਨੂੰ ਰੋਕਦਾ ਹੈ। ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, ਇੱਕ ਸਤਹ ਜੋ ਭੁਰਭੁਰਾ ਦਿਖਾਈ ਦਿੰਦੀ ਹੈ, ਜ਼ਰੂਰੀ ਤੌਰ 'ਤੇ "ਮਾੜੀ" ਸਮੱਗਰੀ ਕਾਰਨ ਨਹੀਂ ਹੋ ਸਕਦੀ; ਇਹ ਘੱਟ ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਤਾਪਮਾਨ ਜਾਂ ਉੱਚ ਤਣਾਅ ਗਾੜ੍ਹਾਪਣ ਕਾਰਨ ਹੋ ਸਕਦੀ ਹੈ।

10. ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੀ ਰਿਪੋਰਟਿੰਗ

ਇੱਕ ਚੰਗੀ ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਰਿਪੋਰਟ ਵਿੱਚ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸ਼ਾਮਲ ਹੁੰਦੇ ਹਨ:

- ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਪਛਾਣ, ਸਮੱਗਰੀ, ਸੰਚਾਲਨ ਇਤਿਹਾਸ।
- ਸਕੇਲ ਦੇ ਨਾਲ ਪੂਰੀਆਂ ਮੈਕਰੋ ਅਤੇ ਮਾਈਕ੍ਰੋ ਫੋਟੋਆਂ।
- ਮੂਲ ਦਾ ਨਿਰਧਾਰਨ, ਪ੍ਰਸਾਰ ਦੀ ਦਿਸ਼ਾ, ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਵਿਧੀ।
- ਸਹਾਇਕ ਸਬੂਤ (SEM, EDS, ਮੈਟਲੋਗ੍ਰਾਫੀ, ਕਠੋਰਤਾ)।
- ਸਿੱਟੇ ਅਤੇ ਸਿਫ਼ਾਰਸ਼ਾਂ: ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਸੁਧਾਰ (ਵੱਡਾ ਫਿਲਲੇਟ ਰੇਡੀਅਸ), ਤਣਾਅ ਗਾੜ੍ਹਾਪਣ ਘਟਾਉਣਾ, ਵੈਲਡ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਯੰਤਰਣ, ਸਮੱਗਰੀ ਵਿੱਚ ਬਦਲਾਅ, ਗਰਮੀ ਦਾ ਇਲਾਜ, ਖੋਰ ਸੁਰੱਖਿਆ, ਜਾਂ ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਵਿੱਚ ਬਦਲਾਅ।

ਬੰਦ ਕੀਤਾ ਜਾ ਰਿਹਾ

ਧਾਤਾਂ ਦਾ ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਸਮੱਗਰੀ ਇੰਜੀਨੀਅਰਿੰਗ ਅਤੇ ਅਸਫਲਤਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੁਨਰ ਹੈ। ਸਫਲਤਾ ਦੀਆਂ ਕੁੰਜੀਆਂ ਸਹੀ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਪ੍ਰਬੰਧਨ, ਮੈਕਰੋ ਤੋਂ ਮਾਈਕ੍ਰੋ ਤੱਕ ਇੱਕ ਕਦਮ-ਦਰ-ਕਦਮ ਜਾਂਚ, ਫ੍ਰੈਕਚਰ ਵਿਧੀਆਂ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਪਛਾਣ ਕਰਨ ਲਈ SEM ਦੀ ਵਰਤੋਂ, ਅਤੇ ਸਹਾਇਕ ਸੰਚਾਲਨ ਅਤੇ ਟੈਸਟ ਡੇਟਾ ਦੇ ਨਾਲ ਖੋਜਾਂ ਦਾ ਏਕੀਕਰਨ ਵਿੱਚ ਹਨ। ਇੱਕ ਯੋਜਨਾਬੱਧ ਪਹੁੰਚ ਨਾਲ, ਫ੍ਰੈਕਟੋਗ੍ਰਾਫੀ ਭਵਿੱਖ ਵਿੱਚ ਸਮਾਨ ਅਸਫਲਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਰੋਕਣ ਲਈ "ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਫ੍ਰੈਕਚਰ" ਨੂੰ ਕਾਰਵਾਈਯੋਗ ਜਾਣਕਾਰੀ ਵਿੱਚ ਬਦਲ ਸਕਦੀ ਹੈ।

ਜੇ ਤੁਸੀਂ ਚਾਹੋ, ਤਾਂ ਮੈਂ ਇਸ ਲੇਖ ਨੂੰ ਇੱਕ ਖਾਸ ਸੰਦਰਭ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਬੋਲਟ ਫੇਲ੍ਹ ਹੋਣਾ, ਘੁੰਮਦੇ ਸ਼ਾਫਟ, ਵੈਲਡਡ ਪਾਈਪ, ਜਾਂ ਕਲੋਰਾਈਡ ਵਾਤਾਵਰਣ ਵਿੱਚ ਸਟੇਨਲੈਸ ਸਟੀਲ) ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ ਢਾਲ ਸਕਦਾ ਹਾਂ ਜਾਂ ਕੇਸ ਉਦਾਹਰਣਾਂ ਅਤੇ ਫੀਲਡ ਨਿਰੀਖਣ ਚੈੱਕਲਿਸਟਾਂ ਸ਼ਾਮਲ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹਾਂ।

ਇੱਕ ਟਿੱਪਣੀ ਛੱਡੋ